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PRODUCT

AUTO TYPE

TMR-1515

TMR-1515

R-Axis Thin Film Measurement System

R-axis motion provides flexible measurement positioning for thin film analysis


TMR-1515는 R축 구동 기술을 기반으로 한 Semi-Automatic 박막 측정 시스템으로, 공정 측정 및 다양한 박막 분석 환경에 대응합니다.


Specification

Wavelength: 400 – 800 nm
Measurement Range: 500 Å – 100 μm*
Spot Size: 2 mm
Stage Size: Up to 300 × 300 mm
Motion: Semi-Auto 
Option: CMP
* Measurement range depends on material.