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PRODUCT

박막두께측정기

ST3000




  


현미경이 없는 Head 형태의 타입으로서 공정장비에 부착하여 실시간으로 두께 관리가 가능합니다.

Spin Coater, Slit Coater, Roll Printer 등 각 종 공정장비에서 PLC와 연결하여 제어가 가능합니다.




Specification
치수와 제어 구성 System size : 220 x 300 x 98 mm
Weight:: 10 kg
광학측정 파트(헤드) Used wavelength range : 400~800nm(option 900~2100nm)
Detector: Linear silicon CCD array
측정광원 Tungsten-Halogen stabilized technical lamp
Specification : 12V, 100W
Color temperature : 2,800K
Life Time : Approx 1500hours
측정 포인트 크기 27mm (실제 데이터 얻는 부분 2mm)
광 파이버 Choose Wavelength : 300~800nm(option 900~2100nm)
Fiber diameter: 200um
Measurable Wavelength range 400 ~ 800nm (Option:900 ~ 2100nm)
Detector (Linear Array Type) 2048 pixels
Fiber 200㎛ (Core)
Theoretical resolution 1.5 nm
Measurement spot size About 2mm
Measurement Material Transparent Layer
Thickness measurement range 1㎛ ~ 40㎛(depending on materials)
Repeatability (1sigma) 15A at 20,000A (Actual Sample)
Repeatability (1sigma) 10A at 20,000A (SiO2 on Si-Wafer : SRM)
(Continuously, Measuring the same point 30 times)
Measuring Speed ≤ 2sec/ point (Without Moving)
Multi-layer measurement Single layers (Depends on materials)